太赫兹科学与电子信息学报2018，Vol.16Issue(5)：845-849,5.DOI:10.11805/TKYDA201805.0845
强电磁辐射下X射线条纹相机可靠性分析
Reliability analysis of X-ray streak camera under
strong electromagnetic radiation
易涛 1于瑞珍 1胡昕 1杨鸣 1王峰 2李廷帅 1陈铭 2江少恩 1刘慎业1
作者信息
- 1. 中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川绵阳 621999
- 2. 电子科技大学能源科学与工程学院,四川成都 611731
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摘要
关键词
X射线条纹相机/可靠性/强电磁辐射分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
易涛,于瑞珍,胡昕,杨鸣,王峰,李廷帅,陈铭,江少恩,刘慎业..强电磁辐射下X射线条纹相机可靠性分析[J].太赫兹科学与电子信息学报,2018,16(5):845-849,5.
