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利用噪声谱表征二氧化钒薄膜的光学相变特性

尚雅轩 梁继然 刘剑 赵一瑞 姬扬

红外与毫米波学报2018，Vol.37Issue(5)：595-598,641,5.
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红外与毫米波学报2018，Vol.37Issue(5)：595-598,641,5.DOI:10.11972/j.issn.1001-9014.2018.05.012

利用噪声谱表征二氧化钒薄膜的光学相变特性

Optical phase transition properties of vanadium dioxide thin film characterized by noise spectra

尚雅轩 1梁继然 2刘剑 3赵一瑞 1姬扬2

作者信息

  • 1. 中国科学院半导体研究所半导体超晶格国家重点实验室,北京100083
  • 2. 中国科学院大学材料科学与光电技术学院,北京100049
  • 3. 微电子学院,天津大学,天津300072
  • 折叠

摘要

关键词

二氧化钒薄膜/噪声谱/同步测量/半导体-金属相变/反射率

分类

数理科学

引用本文复制引用

尚雅轩,梁继然,刘剑,赵一瑞,姬扬..利用噪声谱表征二氧化钒薄膜的光学相变特性[J].红外与毫米波学报,2018,37(5):595-598,641,5.

基金项目

国家重点基础研究发展计划(2016YFA0301202) （2016YFA0301202）

国家自然科学基金(11674311,61674146) （11674311,61674146）

红外与毫米波学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

1001-9014

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