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基于SP-LNS-KNN的半导体生产过程故障检测方法研究

冯立伟 张成 谢彦红 李元 逄玉俊

计算机应用研究2018,Vol.35Issue(11):3307-3310,3314,5.
计算机应用研究2018,Vol.35Issue(11):3307-3310,3314,5.DOI:10.3969/j.issn.1001-3695.2018.11.025

基于SP-LNS-KNN的半导体生产过程故障检测方法研究

SP-LNS-KNN-based fault detection method for multimode batch process

冯立伟 1张成 2谢彦红 1李元 2逄玉俊1

作者信息

  • 1. 沈阳化工大学 数理系,沈阳 110142
  • 2. 沈阳化工大学技术过程故障诊断与安全性研究中心,沈阳 110142
  • 折叠

摘要

关键词

标准化/K近邻/多模态/故障检测/统计模量分析

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

冯立伟,张成,谢彦红,李元,逄玉俊..基于SP-LNS-KNN的半导体生产过程故障检测方法研究[J].计算机应用研究,2018,35(11):3307-3310,3314,5.

基金项目

国家自然科学基金重点资助项目(61490701,61673279) (61490701,61673279)

辽宁省教育厅基金资助一般项目(L2015432) (L2015432)

辽宁省自然科学基金资助项目(2015020164) (2015020164)

计算机应用研究

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-3695

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