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P型栅增强型GaN功率开关器件的中子辐照效应

张得玺 陈伟 罗尹虹 刘岩 郭晓强

现代应用物理2018,Vol.9Issue(3):51-56,6.
现代应用物理2018,Vol.9Issue(3):51-56,6.DOI:10.12061/j.issn.2095-6223.2018.030602

P型栅增强型GaN功率开关器件的中子辐照效应

Neutron Radiation Effects of P-Gate Normally-Off GaN Power Switching Transistor

张得玺 1陈伟 1罗尹虹 1刘岩 1郭晓强1

作者信息

  • 1. 西北核技术研究所,西安710024
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摘要

关键词

氮化镓功率器件/增强型/栅注入晶体管/GaN/位移损伤效应

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张得玺,陈伟,罗尹虹,刘岩,郭晓强..P型栅增强型GaN功率开关器件的中子辐照效应[J].现代应用物理,2018,9(3):51-56,6.

现代应用物理

OACSTPCD

2095-6223

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