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基于磷钝化栅介质的1.2kV4H-SiC DMOSFET

刘佳佳 刘英坤 谭永亮 张力江 崔玉兴

电子学报2018,Vol.46Issue(8):2026-2029,4.
电子学报2018,Vol.46Issue(8):2026-2029,4.DOI:10.3969/j.issn.0372-2112.2018.08.031

基于磷钝化栅介质的1.2kV4H-SiC DMOSFET

1.2kV 4H-SiC DMOSFET with Phosphorous Passivated Gate Dielectric

刘佳佳 1刘英坤 1谭永亮 1张力江 1崔玉兴1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第十三研究所,河北石家庄050051
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摘要

关键词

4H-SiC MOSFET/4H-SiC/SiO2界面/磷钝化/界面态密度

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

刘佳佳,刘英坤,谭永亮,张力江,崔玉兴..基于磷钝化栅介质的1.2kV4H-SiC DMOSFET[J].电子学报,2018,46(8):2026-2029,4.

电子学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

0372-2112

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