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碳化硅MOSFET特征参数随温度变化的比较研究

江芙蓉 杨树 盛况

电源学报2018,Vol.16Issue(6):143-151,9.
电源学报2018,Vol.16Issue(6):143-151,9.DOI:10.13234/j.issn.2095-2805.2018.6.143

碳化硅MOSFET特征参数随温度变化的比较研究

Comparative Study on Temperature-dependent Characteristic Parameters of SiC MOSFET

江芙蓉 1杨树 1盛况1

作者信息

  • 1. 浙江大学电气工程学院,杭州 310027
  • 折叠

摘要

关键词

SiCMOSFET/温度/导通电阻/阈值电压/迁移率/界面态

分类

信息技术与安全科学

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江芙蓉,杨树,盛况..碳化硅MOSFET特征参数随温度变化的比较研究[J].电源学报,2018,16(6):143-151,9.

基金项目

国家重点研发计划资助项目(2016YFB0400402) (2016YFB0400402)

国家自然科学基金资助项目(51577169) (51577169)

电源学报

OA北大核心CSCD

2095-2805

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