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基于正交试验的复合绝缘子电晕老化特性

梁英 董平平 高丽娟

高电压技术2018，Vol.44Issue(12)：4083-4089,7.
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高电压技术2018，Vol.44Issue(12)：4083-4089,7.DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.20180615002

基于正交试验的复合绝缘子电晕老化特性

Corona Aging Characteristics of Composite Insulators Based on Orthogonal Experiment

梁英 1董平平 2高丽娟3

作者信息

  • 1. 华北电力大学河北省输变电设备安全防御重点实验室,保定071003
  • 2. 国网江苏省电力有限公司宿迁供电分公司,宿迁223800
  • 3. 国网河北省电力有限公司衡水供电分公司,衡水053000
  • 折叠

摘要

关键词

复合绝缘子/电晕老化/陷阱特性/正交试验/TSC/SEM/FTIR

引用本文复制引用

梁英,董平平,高丽娟..基于正交试验的复合绝缘子电晕老化特性[J].高电压技术,2018,44(12):4083-4089,7.

基金项目

国家自然科学基金(51207055) （51207055）

河北自然科学基金(E2013502213). （E2013502213）

高电压技术

OA北大核心CSCDCSTPCD

1003-6520

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