硅酸盐通报2018，Vol.37Issue(11)：3541-3544,3550,5.
高硅基质中杂质元素磷的质谱分析
Analysis of Impurity Element Phosphorus in High Silicon Matrix Using Tendem Mass Spectrometry
摘要
关键词
高硅基质/电感耦合等离子体串联质谱/碰撞/反应池/磷/H2分类
化学化工引用本文复制引用
李坦平,谢华林,聂西度..高硅基质中杂质元素磷的质谱分析[J].硅酸盐通报,2018,37(11):3541-3544,3550,5.基金项目
国家自然科学基金(21671200) （21671200）
重庆市高校优秀成果转化资助项目(KJZH17131) （KJZH17131）
湖南省重点学科建设项目(湘教发[2011]76号) （湘教发[2011]76号）
