电测与仪表2018，Vol.55Issue(24)：11-16,6.
基于BOA-SVM的劣化绝缘子红外图谱诊断方法
Infrared spectrum diagnosis method of deteriorated insulators based on BOA-SVM
摘要
关键词
支持向量机/贝叶斯优化/绝缘子/红外成像分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
裴少通,刘云鹏,陈同凡,武建华,梁利辉..基于BOA-SVM的劣化绝缘子红外图谱诊断方法[J].电测与仪表,2018,55(24):11-16,6.基金项目
国家自然科学基金资助项目(51577069) （51577069）
中央高校基本科研业务费资助项目(2017XS117) （2017XS117）
