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小型断路器电气寿命测试分析

卢凤杰 丛翔 亓晓彬 李良 赵雅洁

大科技Issue(36)：65-66,2.
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大科技Issue(36)：65-66,2.

小型断路器电气寿命测试分析

卢凤杰 1丛翔 2亓晓彬 1李良 1赵雅洁1

作者信息

  • 1. 天津职业技术师范大学 天津 300222
  • 2. 天津科技大学 天津 300222
  • 折叠

摘要

关键词

小型断路器/电气寿命/触头/电磨损

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

卢凤杰,丛翔,亓晓彬,李良,赵雅洁..小型断路器电气寿命测试分析[J].大科技,2018,(36):65-66,2.

大科技

1004-7344

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