电子器件2018，Vol.41Issue(6)：1394-1400,7.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2018.06.009
低电压SRAM测试电路设计与实现
Design and Implementation of Low Voltage SRAM Built-In Self-Test Circuit
摘要
关键词
低电压SRAM/DFT/内建自测试/故障覆盖率分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
蔡志匡,王昌强,王荧,荣佑丽,吕凯,肖建..低电压SRAM测试电路设计与实现[J].电子器件,2018,41(6):1394-1400,7.基金项目
国家自然科学基金项目(61504065,61504061,61501261) （61504065,61504061,61501261）
江苏省自然科学基金项目(BK20150848) （BK20150848）
南京邮电大学引进人才科研启动基金项目(NY214157) （NY214157）
