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微波单片集成电路测试技术研究

袁帅 邱云峰

数字技术与应用2018,Vol.36Issue(11):52-53,2.
数字技术与应用2018,Vol.36Issue(11):52-53,2.DOI:10.19695/j.cnki.cn12-1369.2018.11.30

微波单片集成电路测试技术研究

Testing technology of Monolithic Microwave Integrated Circuits(MMIC)

袁帅 1邱云峰1

作者信息

  • 1. 贵州航天计量测试技术研究所,贵州贵阳 550009
  • 折叠

摘要

关键词

MMIC/微波参数测试/元器件可靠性/微波测试夹具

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

袁帅,邱云峰..微波单片集成电路测试技术研究[J].数字技术与应用,2018,36(11):52-53,2.

数字技术与应用

1007-9416

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