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基于原位界面电学特征的膜污染迁移

贾辉 冯芳芳 温海涛 何志超 陶正源

天津工业大学学报2018，Vol.37Issue(6)：8-13,29,7.
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天津工业大学学报2018，Vol.37Issue(6)：8-13,29,7.DOI:10.3969/j.issn.1671-024x.2018.06.002

基于原位界面电学特征的膜污染迁移

Membrane fouling migration based on in-situ interface electrical characteristics

贾辉 1冯芳芳 2温海涛 1何志超 3陶正源1

作者信息

  • 1. 天津工业大学省部共建分离膜与膜过程国家重点实验室,天津 300387
  • 2. 天津工业大学 天津市水质安全评价与保障技术工程中心,天津 300387
  • 3. 天津工业大学 环境科学与工程学院,天津300387
  • 折叠

摘要

关键词

中空纤维膜/原位在线监测技术/膜污染迁移/不均匀污染/电学特征

分类

轻工纺织

引用本文复制引用

贾辉,冯芳芳,温海涛,何志超,陶正源..基于原位界面电学特征的膜污染迁移[J].天津工业大学学报,2018,37(6):8-13,29,7.

基金项目

国家自然科学基金面上资助项目(51578375) （51578375）

中国博士后科学基金面上资助项目(2017M621081) （2017M621081）

天津市科技计划资助项目(16PTGCCX00070,14ZCDGSF00126,12ZCDGSF00128) （16PTGCCX00070,14ZCDGSF00126,12ZCDGSF00128）

天津工业大学学报

OA北大核心CSTPCD

1671-024X

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