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基于密度泛函理论的单层MoS2纳米材料气敏性能研究

臧道俊 李运祥 徐帅 王岩

电子科技2019,Vol.32Issue(1):5-10,6.
电子科技2019,Vol.32Issue(1):5-10,6.DOI:10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2019.01.002

基于密度泛函理论的单层MoS2纳米材料气敏性能研究

DFT Study on Gas Sensing Property of MoS2 Monolayer

臧道俊 1李运祥 2徐帅 1王岩1

作者信息

  • 1. 江苏大学机械工程学院,江苏 镇江 212013
  • 2. 苏州大学物理与光电·能源学部,江苏 苏州 215006
  • 折叠

摘要

关键词

单层二硫化钼/掺杂处理/第一性原理/能带结构/态密度/气敏性能

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

臧道俊,李运祥,徐帅,王岩..基于密度泛函理论的单层MoS2纳米材料气敏性能研究[J].电子科技,2019,32(1):5-10,6.

基金项目

国家自然科学基金(51575246) (51575246)

江苏省六大人才高峰项目(JXQC-006) (JXQC-006)

电子科技

1007-7820

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