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基于X射线光电子能谱定量分析金刚石自支撑膜高温石墨化

闫雄伯 魏俊俊 陈良贤 刘金龙 李成明

表面技术2019,Vol.48Issue(5):139-146,8.
表面技术2019,Vol.48Issue(5):139-146,8.DOI:10.16490/j.cnki.issn.1001-3660.2019.05.021

基于X射线光电子能谱定量分析金刚石自支撑膜高温石墨化

Quantitative Analysis on Graphitization of CVD Free-standing Diamond Films at High Temperatures Based on X-ray Photoelectron Spectroscopy

闫雄伯 1魏俊俊 1陈良贤 1刘金龙 1李成明1

作者信息

  • 1. 北京科技大学 新材料技术研究院,北京 100083
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摘要

关键词

金刚石自支撑膜/石墨化/sp2/sp3杂化/红外透过率/晶界/热冲击

分类

化学化工

引用本文复制引用

闫雄伯,魏俊俊,陈良贤,刘金龙,李成明..基于X射线光电子能谱定量分析金刚石自支撑膜高温石墨化[J].表面技术,2019,48(5):139-146,8.

基金项目

国家重点研发计划(2016YFE0133200) (2016YFE0133200)

表面技术

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-3660

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