光通信研究Issue(3)：47-52,6.DOI:10.13756/j.gtxyj.2019.03.010
半导体探测器封前外观自动光学检验系统研究
Study on Automatic Optical Inspection System of Semiconductor Detector before Sealing
摘要
关键词
同轴晶体管外形半导体探测器/视觉检测/景深合成/自动光学检验分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
梁师国,曾志红,陈晓莉,何俊,梁飞,张颉,罗勇..半导体探测器封前外观自动光学检验系统研究[J].光通信研究,2019,(3):47-52,6.基金项目
工信部智能制造综合标准化与新模式应用资助项目(WBS2018B0026) （WBS2018B0026）
