液晶与显示2019，Vol.34Issue(3)：273-277,5.DOI:10.3788/YJYXS20193403.0273
网状斑点不良分析研究
Research of Emboss Mura
白金超 1王勋 1吴祖谋 1丁向前 1张向蒙 1李小龙 1左天宇 1宋勇志 1陈维涛1
作者信息
- 1. 北京京东方显示技术有限公司,北京 100176
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摘要
关键词
网状斑点不良/下部电极/划伤分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
白金超,王勋,吴祖谋,丁向前,张向蒙,李小龙,左天宇,宋勇志,陈维涛..网状斑点不良分析研究[J].液晶与显示,2019,34(3):273-277,5.
