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基于改进的Sobel-Zernike矩法亚像素厚度测量

杨前华 姚励 赵力

电测与仪表2019,Vol.56Issue(10):99-104,133,7.
电测与仪表2019,Vol.56Issue(10):99-104,133,7.DOI:10.19753/j.issn1001-1390.2019.010.016

基于改进的Sobel-Zernike矩法亚像素厚度测量

Subpixel thickness measurement based on improved Sobel-Zernike moment

杨前华 1姚励 2赵力2

作者信息

  • 1. 南京信息职业技术学院通信学院,南京210023
  • 2. 东南大学信息科学与工程学院,南京210018
  • 折叠

摘要

关键词

Sobel-Zernike矩法/亚像素/定位/厚度测量

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

杨前华,姚励,赵力..基于改进的Sobel-Zernike矩法亚像素厚度测量[J].电测与仪表,2019,56(10):99-104,133,7.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(61571106) (61571106)

江苏高校品牌专业建设工程资助项目(PPZY2015A092) (PPZY2015A092)

电测与仪表

OA北大核心CSTPCD

1001-1390

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