电源技术2019，Vol.43Issue(6)：930-932,3.
ICP-OES法测定硅碳负极材料中的硅和17种杂质元素
Determination of silicon and 17 impurity elements in silicon anode materials by ICP-OES
刘文斌 1符泽卫 1许金泉 1胡俊涛 1胡文龙1
作者信息
- 1. 云南锡业集团(控股)有限责任公司,云南昆明650106
- 折叠
摘要
关键词
锂离子电池/硅碳负极材料/ICP-OES分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
刘文斌,符泽卫,许金泉,胡俊涛,胡文龙..ICP-OES法测定硅碳负极材料中的硅和17种杂质元素[J].电源技术,2019,43(6):930-932,3.
