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Bi1.5Zn1.0 Nb1.5O7栅绝缘层的SiO2修饰对ZnO-TFTs性能的影响

叶伟 崔立堃 常红梅

电子学报2019,Vol.47Issue(6):1344-1351,8.
电子学报2019,Vol.47Issue(6):1344-1351,8.DOI:10.3969/j.issn.0372-2112.2019.06.023

Bi1.5Zn1.0 Nb1.5O7栅绝缘层的SiO2修饰对ZnO-TFTs性能的影响

Effect of SiO2 Modification of Bi1.5 Zn1.0Nb1.5O7 Gate Insulator on the Performance of ZnO-TFTs

叶伟 1崔立堃 1常红梅1

作者信息

  • 1. 陕西理工大学机械工程学院,陕西汉中723001
  • 折叠

摘要

关键词

SiO2薄膜/氧化锌薄膜晶体管/修饰层/Bi1.5Zn1.0Nb1.5O7薄膜/射频磁控溅射

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

叶伟,崔立堃,常红梅..Bi1.5Zn1.0 Nb1.5O7栅绝缘层的SiO2修饰对ZnO-TFTs性能的影响[J].电子学报,2019,47(6):1344-1351,8.

基金项目

陕西省教育厅专项科学研究计划(No. 17JK0144,No. 18JK0151) (No. 17JK0144,No. 18JK0151)

陕西省工业自动化重点实验室项目(No. 09JS045) (No. 09JS045)

陕西理工大学人才启动项目(No. SLGQD2017-19) (No. SLGQD2017-19)

电子学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

0372-2112

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