高技术通讯2019，Vol.29Issue(6)：523-529,7.DOI:10.3772/j.issn.1002-0470.2019.06.001
基于电路结构的测试移位功耗优化方法
A test-shift-power optimization method based on circuit structure
摘要
关键词
扫描单元/电路结构/测试移位功耗/动态规划/测试开销引用本文复制引用
许超,孟祥刚,陈华军,卢新元..基于电路结构的测试移位功耗优化方法[J].高技术通讯,2019,29(6):523-529,7.基金项目
国家"核高基"科技重大专项课题(2009ZX01028-002-003, 2009ZX01029-001-003, 2010ZX01036-001-002, 2012ZX01029-001-002-002, 2014ZX01020201, 2014ZX01030101),国家自然科学基金(61521092,61432016,61222204)和中国科学院重点部署项目(ZDRW-XH-2017-1 )资助项目. （2009ZX01028-002-003, 2009ZX01029-001-003, 2010ZX01036-001-002, 2012ZX01029-001-002-002, 2014ZX01020201, 2014ZX01030101）
