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基于FBAR谐振器件的CMOS振荡电路特性比较

陈振雄 高同强 赵思琦 方康明 赵湛 杨海钢

太赫兹科学与电子信息学报2019,Vol.17Issue(2):322-326,337,6.
太赫兹科学与电子信息学报2019,Vol.17Issue(2):322-326,337,6.DOI:10.11805/TKYDA201902.0322

基于FBAR谐振器件的CMOS振荡电路特性比较

Comparison of three low-power CMOS oscillators for FBAR resonator applications

陈振雄 1高同强 2赵思琦 1方康明 2赵湛 1杨海钢2

作者信息

  • 1. 中国科学院大学,北京100190
  • 2. 中国科学院电子学研究所,北京100190
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摘要

关键词

薄膜体声波谐振器/振荡器/低功耗/相位噪声

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

陈振雄,高同强,赵思琦,方康明,赵湛,杨海钢..基于FBAR谐振器件的CMOS振荡电路特性比较[J].太赫兹科学与电子信息学报,2019,17(2):322-326,337,6.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(61431019) (61431019)

太赫兹科学与电子信息学报

OA北大核心CSTPCD

2095-4980

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