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基于性能渐变仿真的继电器结构退化故障模拟与验证

付饶 叶雪荣 梁慧敏 丁新 翟国富

电器与能效管理技术Issue(12)：15-19,5.
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电器与能效管理技术Issue(12)：15-19,5.DOI:10.16628/j.cnki.2095-8188.2019.12.003

基于性能渐变仿真的继电器结构退化故障模拟与验证

Simulation and Verification of Relay Structure Degradation Fault Based on Virtual Prototype Technology

付饶 1叶雪荣 1梁慧敏 1丁新 2翟国富1

作者信息

  • 1. 哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院,黑龙江哈尔滨150001
  • 2. 天津市航天安通电子科技有限公司,天津300000
  • 折叠

摘要

关键词

电磁继电器/结构退化/故障模拟/故障特征

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

付饶,叶雪荣,梁慧敏,丁新,翟国富..基于性能渐变仿真的继电器结构退化故障模拟与验证[J].电器与能效管理技术,2019,(12):15-19,5.

基金项目

中国博士后科学基金(2016M591530),国家自然科学基金(51507033). （2016M591530）

电器与能效管理技术

2095-8188

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