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基于BP神经网络的IGBT模块开关损耗求解

唐波 刘任 江浩田 孙睿 吴卓

高压电器2019,Vol.55Issue(7):27-32,6.
高压电器2019,Vol.55Issue(7):27-32,6.DOI:10.13296/j.1001-1609.hva.2019.07.005

基于BP神经网络的IGBT模块开关损耗求解

Solution of Switching Loss of IGBT Module Based on Back Propagation Neural Network

唐波 1刘任 1江浩田 1孙睿 1吴卓1

作者信息

  • 1. 三峡大学电气与新能源学院,湖北宜昌 443002
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摘要

关键词

IGBT模块/开关损耗/损耗影响因素/BP神经网络/粒子群算法

引用本文复制引用

唐波,刘任,江浩田,孙睿,吴卓..基于BP神经网络的IGBT模块开关损耗求解[J].高压电器,2019,55(7):27-32,6.

基金项目

国家自然科学基金项目(51307098). (51307098)

高压电器

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-1609

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