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插件级模块测试设备的设计与实现

孙日明

科技创新与应用Issue(24)：98-100,3.
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科技创新与应用Issue(24)：98-100,3.

插件级模块测试设备的设计与实现

孙日明1

作者信息

  • 1. 江苏自动化研究所,江苏 连云港 222006
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摘要

关键词

CPCI/电子测试/DVI

分类

军事科技

引用本文复制引用

孙日明..插件级模块测试设备的设计与实现[J].科技创新与应用,2019,(24):98-100,3.

科技创新与应用

2095-2945

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