深空探测学报2019，Vol.6Issue(2)：173-178,6.DOI:10.15982/j.issn.2095-7777.2019.02.009
空间高能粒子与器件布线层核反应后次级粒子LET分布研究
Simulation of the Interaction's Effects on Single Event Effects between High-Energy Particles and Interconnect Overlayers within Semiconductor Devices
摘要
关键词
高能粒子/CMOS工艺器件/LET值/单粒子效应/GEANT4分类
数理科学引用本文复制引用
杨涛,邵志杰,蔡明辉,贾鑫禹,韩建伟..空间高能粒子与器件布线层核反应后次级粒子LET分布研究[J].深空探测学报,2019,6(2):173-178,6.基金项目
中国科学院战略性先导科技专项A类资助项目(XDA17010301) （XDA17010301）
北京市科技重大专项资助项目(Z181100002918004) （Z181100002918004）
载人航天领域预先研究课题资助项目(Y79001AF00) （Y79001AF00）
