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退火温度对Ta2O5/SiO2多层反射膜结构和应力特性的影响

刘保剑 段微波 李大琪 余德明 陈刚 王天洪 刘定权

物理学报2019,Vol.68Issue(11):166-172,7.
物理学报2019,Vol.68Issue(11):166-172,7.DOI:10.7498/aps.68.20182247

退火温度对Ta2O5/SiO2多层反射膜结构和应力特性的影响

Effect of annealing temperature on structure and stress properties of Ta2O5/SiO2 multilayer reflective coatings

刘保剑 1段微波 1李大琪 1余德明 1陈刚 1王天洪 1刘定权1

作者信息

  • 1. 中国科学院上海技术物理研究所,上海200083
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摘要

关键词

光学薄膜/Ta2O5/SiO2多层反射膜/退火/应力特性

引用本文复制引用

刘保剑,段微波,李大琪,余德明,陈刚,王天洪,刘定权..退火温度对Ta2O5/SiO2多层反射膜结构和应力特性的影响[J].物理学报,2019,68(11):166-172,7.

基金项目

国家自然科学基金青年科学基金(批准号:61605229)和中国科学院上海技术物理研究所创新专项基金(批准号:CX-129)资助的课题. (批准号:61605229)

物理学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

1000-3290

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