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基于稀疏表示法的绝缘子单片红外图谱的 故障诊断方法

杨照光 纪欣欣 张忠元 张广东 裴少通 刘云鹏

电瓷避雷器Issue(4):218-222,5.
电瓷避雷器Issue(4):218-222,5.DOI:10.16188/j.isa.1003-8337.2019.04.037

基于稀疏表示法的绝缘子单片红外图谱的 故障诊断方法

Fault Diagnosis Method of Single Insulator Infrared Spectrum Based on Sparse Representation

杨照光 1纪欣欣 2张忠元 1张广东 1裴少通 2刘云鹏2

作者信息

  • 1. 国网甘肃省电力公司 电力科学研究院,兰州730070
  • 2. 华北电力大学 河北省输变电设备安全防御重点实验室,河北 保定071003
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摘要

关键词

稀疏表示/正交匹配追踪法/劣化诊断/绝缘子单片

引用本文复制引用

杨照光,纪欣欣,张忠元,张广东,裴少通,刘云鹏..基于稀疏表示法的绝缘子单片红外图谱的 故障诊断方法[J].电瓷避雷器,2019,(4):218-222,5.

电瓷避雷器

OA北大核心

1003-8337

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