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基于统计回归和非线性Wiener过程的 交流接触器剩余寿命预测

李奎 高志成 武一 郑淑梅 李正广

电工技术学报2019,Vol.34Issue(19):4058-4070,13.
电工技术学报2019,Vol.34Issue(19):4058-4070,13.DOI:10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.180764

基于统计回归和非线性Wiener过程的 交流接触器剩余寿命预测

Remaining Lifetime Prediction of AC Contactor Based on Statistical Regression and Nonlinear Wiener Process

李奎 1高志成 2武一 1郑淑梅 2李正广1

作者信息

  • 1. 省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室(河北工业大学) 天津 300130
  • 2. 河北省电磁场与电器可靠性重点实验室(河北工业大学) 天津 300130
  • 折叠

摘要

关键词

交流接触器/触头质量损耗/Wiener/过程/统计回归/寿命预测

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

李奎,高志成,武一,郑淑梅,李正广..基于统计回归和非线性Wiener过程的 交流接触器剩余寿命预测[J].电工技术学报,2019,34(19):4058-4070,13.

基金项目

国家自然科学基金(51377043,51777056)、国家重点基础研究发展计划(973 计划)(2015CB251002)、河北省自然科学基金(E2015202109)和河北省教育厅基金(GCC2014027)资助项目. (51377043,51777056)

电工技术学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-6753

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