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晶化率及膜厚对薄膜硅负极循环性能的影响

刘强 吴爱民 吕嘉欣 邓文昕 黄昊

电源技术2019,Vol.43Issue(9):1412-1414,1457,4.
电源技术2019,Vol.43Issue(9):1412-1414,1457,4.

晶化率及膜厚对薄膜硅负极循环性能的影响

The effect of crystallinity and film thickness on cycling performance of silicon film anode

刘强 1吴爱民 1吕嘉欣 1邓文昕 1黄昊1

作者信息

  • 1. 大连理工大学材料科学与工程学院三束材料改性教育部重点实验室,辽宁大连116024
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摘要

关键词

薄膜硅/负极材料/晶化率/薄膜厚度/循环性能

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

刘强,吴爱民,吕嘉欣,邓文昕,黄昊..晶化率及膜厚对薄膜硅负极循环性能的影响[J].电源技术,2019,43(9):1412-1414,1457,4.

基金项目

国家自然科学基金(No.51171033,No.21233010) (No.51171033,No.21233010)

中央高校基本科研业务费重点实验室专项经费(DUT17ZD101) (DUT17ZD101)

常州工业支撑计划(CE20160022) (CE20160022)

电源技术

OA北大核心CSTPCD

1002-087X

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