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基于显微红外热点定位系统的发光二极管失效分析

张槐洋 文尚胜 方方 唐浩洲 林凯旋 邵沅玲 魏志权 康丽娟 廖少雄

发光学报2019，Vol.40Issue(9)：1185-1191,7.
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发光学报2019，Vol.40Issue(9)：1185-1191,7.DOI:10.3788/fgxb20194009.1185

基于显微红外热点定位系统的发光二极管失效分析

Failure Analysis of Light Emitting Diode Based on Microscopic Infrared Hot Spot Location System

张槐洋 1文尚胜 1方方 2唐浩洲 3林凯旋 1邵沅玲 3魏志权 3康丽娟 3廖少雄4

作者信息

  • 1. 华南理工大学 材料科学与工程学院,广东 广州 510640
  • 2. 华南理工大学 发光材料与器件国家重点实验室,广东 广州 510640
  • 3. 广东金鉴实验室科技有限公司,广东 广州 511300
  • 4. 华南师范大学 美术学院,广东 广州 510631
  • 折叠

摘要

关键词

显微红外热点定位/发光二极管/失效分析/失效定位/双线性插值算法

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张槐洋,文尚胜,方方,唐浩洲,林凯旋,邵沅玲,魏志权,康丽娟,廖少雄..基于显微红外热点定位系统的发光二极管失效分析[J].发光学报,2019,40(9):1185-1191,7.

基金项目

广东省科技计划(2017B010114001,2015B010127004) （2017B010114001,2015B010127004）

广东省应用型科技研发专项(2015B010134001) （2015B010134001）

广州市科技计划(201604040004,201604016010,201704030140) （201604040004,201604016010,201704030140）

广东省扬帆计划(2015YT02C093) （2015YT02C093）

中山市科技计划(2016A1009, 2017C1011,2018A10013)资助项目 （2016A1009, 2017C1011,2018A10013）

发光学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-7032

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