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短路电流作为绝缘栅双极型晶体管模块键合线老化特征量的机理研究

孙鹏菊 王海波 龚灿 杜雄 罗全明 王志远

中国电机工程学报2019，Vol.39Issue(16)：4876-4883,8.
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中国电机工程学报2019，Vol.39Issue(16)：4876-4883,8.DOI:10.13334/j.0258-8013.pcsee.181566

短路电流作为绝缘栅双极型晶体管模块键合线老化特征量的机理研究

Mechanism Research of Short-circuit Current as Bond Wire Ageing Indicator of Insulated Gate Bipolar Transistor Module

孙鹏菊 1王海波 1龚灿 1杜雄 1罗全明 1王志远1

作者信息

  • 1. 输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学),重庆市沙坪坝区400044
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摘要

关键词

绝缘栅双极型晶体管模块/电阻网络模型/短路电流/老化机理

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

孙鹏菊,王海波,龚灿,杜雄,罗全明,王志远..短路电流作为绝缘栅双极型晶体管模块键合线老化特征量的机理研究[J].中国电机工程学报,2019,39(16):4876-4883,8.

基金项目

国家自然科学基金项目(51577020,51137006). （51577020,51137006）

中国电机工程学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

0258-8013

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