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包含SiC/SiO2界面电荷的SiC MOSFET的SPICE模型

周郁明 蒋保国 刘航志 陈兆权 王兵

中国电机工程学报2019,Vol.39Issue(19):5604-5612,9.
中国电机工程学报2019,Vol.39Issue(19):5604-5612,9.DOI:10.13334/j.0258-8013.pcsee.190512

包含SiC/SiO2界面电荷的SiC MOSFET的SPICE模型

SPICE Model of SiC MOSFET Including the Trapped Charge at SiC/SiO2 Interface

周郁明 1蒋保国 1刘航志 2陈兆权 1王兵1

作者信息

  • 1. 安徽工业大学电气与信息工程学院,安徽省马鞍山市 243002
  • 2. 湖南大学电气与信息工程学院,湖南省长沙市 410082
  • 折叠

摘要

关键词

通用模拟电路仿真器模型/碳化硅金属–氧化物–半导体场效应晶体管/界面电荷/迁移率/泄漏电流/失效

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

周郁明,蒋保国,刘航志,陈兆权,王兵..包含SiC/SiO2界面电荷的SiC MOSFET的SPICE模型[J].中国电机工程学报,2019,39(19):5604-5612,9.

基金项目

国家自然科学基金项目(11575003). (11575003)

中国电机工程学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

0258-8013

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