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由NB-IoT物联网终端测试引发的安全思考

王博 张天辰 周陈芬

福建电脑2019,Vol.35Issue(10):20-23,4.
福建电脑2019,Vol.35Issue(10):20-23,4.DOI:10.16707/j.cnki.fjpc.2019.10.005

由NB-IoT物联网终端测试引发的安全思考

Thinking About the Security Caused by NB-IoT Terminal Testing

王博 1张天辰 1周陈芬1

作者信息

  • 1. 福州物联网开放实验室有限公司标准化与技术服务部 福州 350015
  • 折叠

摘要

关键词

物联网/NB-IoT/网络空间安全/标准化/测试认证

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王博,张天辰,周陈芬..由NB-IoT物联网终端测试引发的安全思考[J].福建电脑,2019,35(10):20-23,4.

福建电脑

1673-2782

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