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瞬态电压抑制二极管对半导体桥换能元电爆特性影响的模拟

王军 李勇 卢兵 周彬 陈厚和 黄亦斌

含能材料2019,Vol.27Issue(10):837-844,8.
含能材料2019,Vol.27Issue(10):837-844,8.DOI:10.11943/CJEM2019007

瞬态电压抑制二极管对半导体桥换能元电爆特性影响的模拟

Simulation of the Influence of Transient Voltage Suppression Diode on the Electro-explosive Performance of Semiconductor Bridge Initiator

王军 1李勇 2卢兵 3周彬 1陈厚和 1黄亦斌1

作者信息

  • 1. 南京理工大学化工学院,江苏 南京 210094
  • 2. 中国工程物理研究院化工材料研究所,四川 绵阳 621999
  • 3. 宁波振华电器有限公司,浙江 宁波 315722
  • 折叠

摘要

关键词

半导体桥(SCB)/瞬态电压抑制二极管/电爆特性

分类

军事科技

引用本文复制引用

王军,李勇,卢兵,周彬,陈厚和,黄亦斌..瞬态电压抑制二极管对半导体桥换能元电爆特性影响的模拟[J].含能材料,2019,27(10):837-844,8.

含能材料

OA北大核心CSCDCSTPCD

1006-9941

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