|国家科技期刊平台
| 注册
首页|期刊导航|含能材料|基于GO法的单输出爆炸逻辑网络系统可靠性分析

基于GO法的单输出爆炸逻辑网络系统可靠性分析

杨小玉 李燕华 温玉全 范富博

含能材料2019，Vol.27Issue(10)：875-882,8.
✕
含能材料2019，Vol.27Issue(10)：875-882,8.DOI:10.11943/CJEM2018328

基于GO法的单输出爆炸逻辑网络系统可靠性分析

Reliability Analysis of Single Output Explosive Logic Circuit System Based on GO Method

杨小玉 1李燕华 2温玉全 1范富博1

作者信息

  • 1. 北京理工大学 爆炸科学与技术国家重点实验室,北京 100081
  • 2. 北京国科环宇空间技术有限公司,北京 100086
  • 折叠

摘要

关键词

爆炸逻辑网络/GO法/可靠性分析

分类

军事科技

引用本文复制引用

杨小玉,李燕华,温玉全,范富博..基于GO法的单输出爆炸逻辑网络系统可靠性分析[J].含能材料,2019,27(10):875-882,8.

基金项目

国家自然科学基金委员会与中国工程物理研究院联合基金(U1530135) （U1530135）

含能材料

OA北大核心CSCDCSTPCD

1006-9941

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文