| 注册
首页|期刊导航|核安全|基于反应谱法的1E级配电盘抗震性能试验

基于反应谱法的1E级配电盘抗震性能试验

刘大虎 张强升 江国梁

核安全2019,Vol.18Issue(6):67-73,7.
核安全2019,Vol.18Issue(6):67-73,7.

基于反应谱法的1E级配电盘抗震性能试验

Earthquake-Proof Test Method of 1E Grade Switchboard Based on Response Spectrum

刘大虎 1张强升 1江国梁2

作者信息

  • 1. 生态环境部核与辐射安全中心,北京 100082
  • 2. 山东泰开成套电器有限公司,泰安 271000
  • 折叠

摘要

关键词

低压配电盘/抗震性能分析/设计反应谱/迭代拟合

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

刘大虎,张强升,江国梁..基于反应谱法的1E级配电盘抗震性能试验[J].核安全,2019,18(6):67-73,7.

核安全

1672-5360

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文