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基于TSVM和纹理特征的WIS遥感影像分类方法

金鹏飞 汤瑜瑜 危峻

现代电子技术2020,Vol.43Issue(2):1-4,4.
现代电子技术2020,Vol.43Issue(2):1-4,4.DOI:10.16652/j.issn.1004-373x.2020.02.001

基于TSVM和纹理特征的WIS遥感影像分类方法

WIS remote sensing image classification method based on TSVM and texture features

金鹏飞 1汤瑜瑜 2危峻2

作者信息

  • 1. 中国科学院大学,北京 100101
  • 2. 中国科学院上海技术物理研究所 中国科学院红外探测与成像技术重点实验室,上海 200083
  • 折叠

摘要

关键词

遥感影像/快速分类/TSVM/宽波段成像光谱仪/纹理特征提取/结果分析

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

金鹏飞,汤瑜瑜,危峻..基于TSVM和纹理特征的WIS遥感影像分类方法[J].现代电子技术,2020,43(2):1-4,4.

基金项目

国家自然科学基金(11573049) (11573049)

现代电子技术

OACSTPCD

1004-373X

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