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基于太赫兹偏振成像的砗磲材料检测

薛玉泽 张岩

太赫兹科学与电子信息学报2020,Vol.18Issue(1):18-23,6.
太赫兹科学与电子信息学报2020,Vol.18Issue(1):18-23,6.DOI:10.11805/TKYDA2018390

基于太赫兹偏振成像的砗磲材料检测

Nondestructive testing of tridacna material based on terahertz polarization imaging

薛玉泽 1张岩2

作者信息

  • 1. 首都师范大学 物理系,北京 100048
  • 2. 北京市超材料与器件重点实验室,北京 100048
  • 折叠

摘要

关键词

太赫兹/偏振成像/砗磲材料/无损检测

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

薛玉泽,张岩..基于太赫兹偏振成像的砗磲材料检测[J].太赫兹科学与电子信息学报,2020,18(1):18-23,6.

基金项目

国家自然科学基金项目资助(1474206 ()

11404224 ()

1174243 ()

11774246) ()

太赫兹科学与电子信息学报

OACSTPCD

2095-4980

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