| 注册
首页|期刊导航|电测与仪表|基于Wiener过程气体绝缘母线触头接触失效预测

基于Wiener过程气体绝缘母线触头接触失效预测

秦靖舒 范淑薇 关向雨 舒乃秋

电测与仪表2019,Vol.56Issue(24):7-12,38,7.
电测与仪表2019,Vol.56Issue(24):7-12,38,7.DOI:10.19753/j.issn1001-1390.2019.024.002

基于Wiener过程气体绝缘母线触头接触失效预测

Contact failure prediction of Gas insulated bus contact on wiener process

秦靖舒 1范淑薇 2关向雨 1舒乃秋1

作者信息

  • 1. 武汉大学 电气工程学院,武汉430072
  • 2. 国网郑州供电公司,郑州450000
  • 折叠

摘要

关键词

GIB触头/非线性Wiener退化模型/加速老化试验/寿命预测

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

秦靖舒,范淑薇,关向雨,舒乃秋..基于Wiener过程气体绝缘母线触头接触失效预测[J].电测与仪表,2019,56(24):7-12,38,7.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(51607124) (51607124)

电测与仪表

OA北大核心CSTPCD

1001-1390

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文