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基于大面积TFT和PVDF薄膜的表面形貌无损探测技术

尚飞胡潇然张千刘帅向勇

电子科技大学学报2020，Vol.49Issue(2)：287-290,4.

电子科技大学学报2020，Vol.49Issue(2)：287-290,4.DOI:10.12178/1001-0548.2019220

Nondestructive Detection of Surface Morphology Based on Large-Area TFT and PVDF Films

尚飞 ¹胡潇然 ¹张千 ¹刘帅 ¹向勇¹

作者信息

聚偏氟乙烯/传感器/表面形貌探测/薄膜晶体管

通用工业技术

尚飞,胡潇然,张千,刘帅,向勇..基于大面积TFT和PVDF薄膜的表面形貌无损探测技术[J].电子科技大学学报,2020,49(2):287-290,4.

部级基金（）

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：1001-0548

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