福建电脑2020，Vol.36Issue(3)：47-49,3.DOI:10.16707/j.cnki.fjpc.2020.03.013
工艺拉偏的芯片扫描测试方法研究
Chip Scan Test Method Based on Process Corner
林良飞1
作者信息
- 1. 福建省电子信息应用技术研究院有限公司 福州 350003
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摘要
关键词
扫描测试/MOS/SOC/拉偏实验分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
林良飞..工艺拉偏的芯片扫描测试方法研究[J].福建电脑,2020,36(3):47-49,3.
