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荧光成像技术无损探测光学元件亚表面缺陷

刘红婕王凤蕊耿峰周晓燕黄进叶鑫蒋晓东吴卫东杨李茗

光学精密工程2020，Vol.28Issue(1)：50-59,10.

光学精密工程2020，Vol.28Issue(1)：50-59,10.DOI:10.3788/OPE.20202801.0050

Nondestructive detection of optics subsurface defects by fluorescence image technique

刘红婕 ¹王凤蕊 ¹耿峰 ¹周晓燕 ¹黄进 ¹叶鑫 ¹蒋晓东 ¹吴卫东 ¹杨李茗¹

作者信息

荧光成像技术/亚表面缺陷/激光损伤/熔石英/KDP晶体

数理科学

刘红婕,王凤蕊,耿峰,周晓燕,黄进,叶鑫,蒋晓东,吴卫东,杨李茗..荧光成像技术无损探测光学元件亚表面缺陷[J].光学精密工程,2020,28(1):50-59,10.

等离子体物理国家重点实验室基金资助项目(No.6142A0403010417) （No.6142A0403010417）

国家自然科学基金资助项目(No.11704352) （No.11704352）

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：1004-924X

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