| 注册
首页|期刊导航|高压电器|MMC子模块设备老化机理与状态监测研究综述

MMC子模块设备老化机理与状态监测研究综述

张健 陈锐 陈世瑛 祝令瑜 潘亮 刘琛硕

高压电器2020,Vol.56Issue(1):1-8,8.
高压电器2020,Vol.56Issue(1):1-8,8.DOI:10.13296/j.1001-1609.hva.2020.01.001

MMC子模块设备老化机理与状态监测研究综述

Review on Aging Mechanism and Condition Monitoring of Devices in MMC Sub-module

张健 1陈锐 1陈世瑛 2祝令瑜 2潘亮 2刘琛硕2

作者信息

  • 1. 广东电网有限责任公司电力科学研究院,广州 510080
  • 2. 西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安 710049
  • 折叠

摘要

关键词

MMC/状态监测/老化机理/IGBT/子模块电容器

引用本文复制引用

张健,陈锐,陈世瑛,祝令瑜,潘亮,刘琛硕..MMC子模块设备老化机理与状态监测研究综述[J].高压电器,2020,56(1):1-8,8.

基金项目

国家重点研发计划(2016YFB0901000) (2016YFB0901000)

中国南方电网有限责任公司科技项目(GDKJXM20161891). (GDKJXM20161891)

高压电器

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-1609

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文