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还原氧化石墨烯中钾离子的电化学嵌入/脱出性能研究

赵强 孙艳 罗春晖 闫康平

成都大学学报(自然科学版)2019,Vol.38Issue(4):427-430,4.
成都大学学报(自然科学版)2019,Vol.38Issue(4):427-430,4.DOI:10.3969/j.issn.1004-5422.2019.04.020

还原氧化石墨烯中钾离子的电化学嵌入/脱出性能研究

Intercalation/Deintercalation of K+ in Reduced-Graphene Oxide

赵强 1孙艳 2罗春晖 1闫康平1

作者信息

  • 1. 四川大学化学工程学院,四川成都610065
  • 2. 成都大学机械工程学院,四川成都610106
  • 折叠

摘要

关键词

还原氧化石墨烯/钾离子/热还原/容量

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

赵强,孙艳,罗春晖,闫康平..还原氧化石墨烯中钾离子的电化学嵌入/脱出性能研究[J].成都大学学报(自然科学版),2019,38(4):427-430,4.

基金项目

四川省粉末冶金工程技术研究中心开放基金课题(SC-FMYJ2018-06)资助项目. (SC-FMYJ2018-06)

成都大学学报(自然科学版)

1004-5422

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