| 注册
首页|期刊导航|计量学报|基于FCM优化的平面阵列电容成像算法

基于FCM优化的平面阵列电容成像算法

温银堂 曹鹏鹏 田洪刚 张玉燕 罗小元

计量学报2020,Vol.41Issue(2):231-237,7.
计量学报2020,Vol.41Issue(2):231-237,7.DOI:10.3969/j.issn.1000-1158.2020.02.18

基于FCM优化的平面阵列电容成像算法

An Optimized Planar Array Capacitance Imaging Algorithm Based on FCM

温银堂 1曹鹏鹏 1田洪刚 1张玉燕 1罗小元1

作者信息

  • 1. 燕山大学电气工程学院,河北秦皇岛066004
  • 折叠

摘要

关键词

计量学/胶层缺陷图像重建/隔热复合材料/FCM算法/平面阵列传感器/电容层析成像

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

温银堂,曹鹏鹏,田洪刚,张玉燕,罗小元..基于FCM优化的平面阵列电容成像算法[J].计量学报,2020,41(2):231-237,7.

基金项目

国家自然科学基金(61573302) (61573302)

河北省自然科学基金(E2017203240) (E2017203240)

计量学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-1158

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文