电子器件2020，Vol.43Issue(1)：39-45,7.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2020.01.009
基于超声扫描的塑封器件缺陷判定方法研究
Defect Detection Method of Plastic-Capsulated Devices Based on Ultrasound Scanning
王旭亮 1杨达明 2黄姣英2
作者信息
- 1. 93128部队,北京100843
- 2. 北京航空航天大学可靠性与系统工程学院,北京100191
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摘要
关键词
电子设备/塑封器件/超声扫描检测/缺陷分类
航空航天引用本文复制引用
王旭亮,杨达明,黄姣英..基于超声扫描的塑封器件缺陷判定方法研究[J].电子器件,2020,43(1):39-45,7.
