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基于失效物理原理的光耦寿命分析研究

黄友朋 刘新润 王乐 魏雄飞 孙志端 卢炽华

电子器件2020,Vol.43Issue(1):62-67,6.
电子器件2020,Vol.43Issue(1):62-67,6.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2020.01.013

基于失效物理原理的光耦寿命分析研究

Research on Optical Coupler Life AnalysisBased on Failure Physics Principle

黄友朋 1刘新润 2王乐 2魏雄飞 2孙志端 2卢炽华2

作者信息

  • 1. 广东电网有限责任公司计量中心,广东510000
  • 2. 威胜集团有限公司,长沙410000
  • 折叠

摘要

关键词

光耦/失效物理/威布尔模型/寿命/智能电表

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

黄友朋,刘新润,王乐,魏雄飞,孙志端,卢炽华..基于失效物理原理的光耦寿命分析研究[J].电子器件,2020,43(1):62-67,6.

电子器件

OA北大核心CSTPCD

1005-9490

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