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数字集成电路测试技术应用分析

王柱

科技创新与应用Issue(12)：148-149,2.
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科技创新与应用Issue(12)：148-149,2.

数字集成电路测试技术应用分析

王柱1

作者信息

  • 1. 泛林半导体设备技术(上海)有限公司,上海 214068
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摘要

关键词

数字集成电路/测试/应用剖析/预测

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王柱..数字集成电路测试技术应用分析[J].科技创新与应用,2020,(12):148-149,2.

科技创新与应用

2095-2945

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