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HfO2基铁电场效应晶体管读写电路的单粒子翻转效应模拟

黎华梅 侯鹏飞 王金斌 宋宏甲 钟向丽

物理学报2020,Vol.69Issue(9):270-279,10.
物理学报2020,Vol.69Issue(9):270-279,10.DOI:10.7498/aps.69.20200123

HfO2基铁电场效应晶体管读写电路的单粒子翻转效应模拟

Single-event-upset effect simulation of HfO2-based ferroelectric field effect transistor read and write circuits

黎华梅 1侯鹏飞 1王金斌 2宋宏甲 1钟向丽1

作者信息

  • 1. 湘潭大学材料科学与工程学院, 湘潭 411105
  • 2. 工业和信息化部电子第五研究所, 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室, 广州 510610
  • 折叠

摘要

关键词

铁电场效应晶体管/单粒子瞬态/单粒子翻转

引用本文复制引用

黎华梅,侯鹏飞,王金斌,宋宏甲,钟向丽..HfO2基铁电场效应晶体管读写电路的单粒子翻转效应模拟[J].物理学报,2020,69(9):270-279,10.

基金项目

国家自然科学基金(批准号:11875229)和电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室开放基金(批准号:ZHD201803)资助的课题. (批准号:11875229)

物理学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

1000-3290

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